Untersuchungen zum Einsatz sondenmikroskopischer Methoden zur Charakterisierung von Einkristallspaltflächen

  • Ziel dieser Arbeit war es, die Eignung sondenmikroskopischer Verfahren zur Charakterisierung von Einkristallspaltflächen unter ambienten Bedingungen zu untersuchen. Dazu wurden Messungen mit Rastertunnelmikroskopie (STM), Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Rastertunnelspektroskopie (STS) an Galenit- und Zink-Einkristallspaltflächen unter ambienten Bedingungen (in Luft) durchgeführt, dokumentiert und diskutiert; außerdem wurde auf mögliche Fehlereinflüsse hingewiesen. Zur Ermittlung voon Stabilität und Fehlergröße des Rastertunnel- und Rasterkraftmikroskopes wurden ebenfalls Messungen vorgenommen und mögliche Ursachen der Meßfehler und Instabilitäten aufgezeigt. Weiterhin wurden noch Messungen an Referenzproben durchgeführt, um die erreichbare Auflösung der eingesetzten Mikroskope festzustellen und Vergleiche der Meßergebnisse mit Angaben aus der Literatur vorzunehmen.

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Metadaten
Author:Andres Sedner
Advisor:Wieland Zahn, Antje ZöschGND
Document Type:Diploma Thesis
Language:German
Date of Publication (online):2001/01/26
Year of first Publication:2000
Date of final exam:2000/10/02
Tag:Galenit; Zink-Einkristall
GND Keyword:Zink; Rastertunnelmikroskopie; Rasterkraftmikroskopie
Page Number:55 Seiten, 40 Abb., 2 Tab., 30 Lit.
Faculty:Westsächsische Hochschule Zwickau / Physikalische Technik, Informatik
Release Date:2001/01/26