Röntgenografische Dichte-, Spannungs- und Texturuntersuchungen an AlN- bzw. Ag-Schichten in Abhängigkeit der Herstellungsbedingungen

  • Diese Arbeit handelt von der röntgenografischen Dichtemessung mittels Röntgenreflektometrie an gesputterten AlN-Schichten am D8 Discover von Bruker und der Auswertung der Messergebnisse. Desweiteren geht es um röntgenografische Spannungsmessungen an ebenfalls gesputterten AlN-Schichten und deren Messergebnisse. Ebenso wurden Texturmessungen an im Vakuum aufgedampften Silberschichten durchgeführt.

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Metadaten
Author:Marc Pügner
Advisor:Christel Reinhold, Andreas NeidhardtGND
Document Type:Bachelor Thesis
Language:German
Name:Westsächsische Hochschule Zwickau
Dr.-Friedrichs-Ring 2A, 08056 Zwickau
Date of Publication (online):2010/09/06
Year of first Publication:2010
Publishing Institution:Westsächsische Hochschule Zwickau
Date of final exam:2010/08/30
Page Number:35 Seiten, 19 Abb., 3 Tab., 3 Lit.
Faculty:Westsächsische Hochschule Zwickau / Physikalische Technik, Informatik
Release Date:2010/09/06