Qualifizierung eines mechanischen Verfahrens zur Prüfung der Stabilität von Backend-of-Line-Schichtstapeln auf mikroelektronischen Bauteilen

Qualification of a mechanical approach to test the stability of Backend-of-Line-stacks on microelectronic devices

  • Thema der Arbeit ist ein modernes Verfahren zur Prüfung von Backend-of-Line Schichtstapeln (BEoL) in Mikrochips auf deren Stabilität bezüglich

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Metadaten
Author:Martin Brückner
Advisor:Christel Reinhold, Holm GeislerGND
Document Type:Master's Thesis
Language:German
Name:GLOBALFOUNDRIES Dresden Module One LLC & Co. KG
Wilschdorfer Landstraße 101, 01109 Dresden
Date of Publication (online):2012/09/13
Year of first Publication:2012
Publishing Institution:Westsächsische Hochschule Zwickau
Date of final exam:2012/02/20
Tag:BABSI-Test; Nanoindentation
Backend-of-Line; Bump; Chip-Package-Interaction
GND Keyword:Flip-Chip-Technologie; Mikromechanik; Integrierte Schaltung; Low-k-Dielektrikum; Scherung; In situ; Rasterelektronenmikroskop
Page Number:66 Seiten, 55 Abb., 1 Tab., 14 Lit.
Faculty:Westsächsische Hochschule Zwickau / Physikalische Technik, Informatik
Release Date:2012/09/13