Qualifizierung eines mechanischen Verfahrens zur Prüfung der Stabilität von Backend-of-Line-Schichtstapeln auf mikroelektronischen Bauteilen
Qualification of a mechanical approach to test the stability of Backend-of-Line-stacks on microelectronic devices
- Thema der Arbeit ist ein modernes Verfahren zur Prüfung von Backend-of-Line Schichtstapeln (BEoL) in Mikrochips auf deren Stabilität bezüglich
Author: | Martin Brückner |
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Advisor: | Christel Reinhold, Holm GeislerGND |
Document Type: | Master's Thesis |
Language: | German |
Name: | GLOBALFOUNDRIES Dresden Module One LLC & Co. KG Wilschdorfer Landstraße 101, 01109 Dresden |
Date of Publication (online): | 2012/09/13 |
Year of first Publication: | 2012 |
Publishing Institution: | Westsächsische Hochschule Zwickau |
Date of final exam: | 2012/02/20 |
Tag: | BABSI-Test; Nanoindentation Backend-of-Line; Bump; Chip-Package-Interaction |
GND Keyword: | Flip-Chip-Technologie; Mikromechanik; Integrierte Schaltung; Low-k-Dielektrikum; Scherung; In situ; Rasterelektronenmikroskop |
Page Number: | 66 Seiten, 55 Abb., 1 Tab., 14 Lit. |
Faculty: | Westsächsische Hochschule Zwickau / Physikalische Technik, Informatik |
Release Date: | 2012/09/13 |