TY  - GEN
A1  - Scheffler, Sarah
T1  - Entwicklung von Messstrategien für Oberflächenmessungen mit dem Rauheits- und Oberflächenmessgerät Nanoscan 855
N2  - - Einarbeitung in den Stand der Normung bei 2D- Profilmessungen - Entwicklung von Messstrategien für die in der Ausbildung verwendeten Teile - Erarbeitung eines Überblicks über den Stand der Normung hinsichtlich Flächenrauheit und Bereitstellung von Demonstrationsbeispielen zur Flächenrauheit - Vergleichende Untersuchungen von taktiler und optischer Oberflächenmessung an ausgewählten Beispielen - Durchführung von Kalibrierschritten an Hand der an der WHZ verfügbaren Rauheitsnormale
N2  - - Incorporation into the state of standardization in 2D profile measurements - Development of measurement strategies for the parts used in training - Prepare an overview of the state of standardization regarding surface roughness and providing demonstration examples for surface roughness - Comparative studies of contact and optical surface measurement of selected examples - Implementation of calibration steps with reference to the available roughness normals at the WHZ
KW  - Rauheitsmessung
KW  - Nanoscan 855
KW  - Flächenrauheit
KW  - Kalibrierung
KW  - Rauheitsnormale
Y1  - 2016
UR  - https://libdoc.fh-zwickau.de/opus4/frontdoor/index/index/docId/9336
ER  -