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Year of publication
- 2017 (1)
Document Type
- Bachelor Thesis (1)
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In dieser Arbeit handelt sich um die Untersuchungen an verschiedenen Referenzproben und gesputterten Schichten in einem Rastertunnelmikroskop (Nanosurf NaioSTM). Die Messspitzen und verschiedene Proben wurden selbst hergestellt und mit dem Auswertungsprogramms des Nanosurf NaioSTM analysiert. Es erfolgten Bildaufnahmen bis zu atomarer Auflösung und weiterhin die Vermessung verschiedener Größen, z.B. Atomeabstand oder Rauigkeit. Abschließend wurden die Ergebnisse zusammengestellt und ausgewertet. Mit den gezeigten Messungen in dieser Arbeit konnte die Leistungsfähigkeit des Rastertunnelmikroskops charakterisiert werden.