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Diese Arbeit beschäftigt sich mit XPS Untersuchungen eines Schichtsystems, bestehend aus einer La0,6Sr0,4CoO3 Schicht, die auf YSZ Substrate aufgebracht wurden. Ziel ist es, Vorgänge die sich an Festoxidbrennstoffzellen dieses Typs abspielen, zu untersuchen. Es wurde zunächst die Zusammensetzung der Oberfläche und der Konzentrationsverlauf im Inneren der Probe mit SIMS und AES bestimmt. Anschließend wurde die Oberflächenveränderung durch Temperatureinwirkungen, wie sie bei Arbeitstemperaturen von SOFC's vorherrschen, beobachtet. Weiterhin wurde das Schichtsystem mit einer neu entwickelten Messmethode im laufenden Betrieb mittels XPS untersucht. Hierbei wurde versucht, Informationen über eine Umordnung der LSC-Schicht zu erhalten, welche die Reaktionskinetik beeinflusst. Um mögliche irreversible Veränderungen der Probe, die durch den geringen Sauerstoffpartialdruck im Vakuumsystem verursacht wurden, zu erkennen, wurden vor und nach den Messungen Untersuchungen mit XRD, AES und SEM vorgenommen.